新着情報

05国際画像機器展

出展・講演

2005年12月10日

当社の高精度3次元写真計測システムを12月7日から9日まで開催された'05国際画像機器展(パシフィコ横浜)に出展しました。また、7日に当社代表の徐が、国際画像セミナーにて「非接触高精度3次元写真計測・測定:技術とビジネス」という題で講演しました。多数のご来場有難うございました。

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